С апреля 2002г. два наиболее популярных сканирующих микроскопа JEOL – 5610 и 5910 заменены новейшими моделями с улучшенными характеристиками: JSM-6360 и JSM-6460.

Одновременно фирма JEOL объявила о выпуске новейшей модели сканирующего микроскопа высокого разрешения – JSM-7400F.

Поставка новых моделей начинается со второго полугодия 2002г. Первый в России прибор – JSM-6460LV – будет установлен в лаборатории Саяногорского алюминиевого комбината (компания Русский Алюминий) осенью 2002г.

26 марта 2002 года в Институте кристаллографии РАН состоялся Московский семинар по электронной микроскопии. Ведущий специалист фирмы JEOL (Япония) Тецуо Ойкава выступил с докладом на тему:

"Последние разработки JEOL в области просвечивающей электронной микроскопии и ее применение в исследованиях металлов, наноматериалов и кристаллографии".

Представлены последние разработки JEOL в области просвечивающей электронной микроскопии высокого разрешения, рассмотрены современные методы исследования структуры новейших материалов, представлены результаты исследований, полученные на микроскопах с ускоряющим напряжением 200-400 кВ, в том числе на приборах с автоэмиссионными катодами.

Семинар организован совместно Институтом кристаллографии и фирмой Interactive Corporation, авторизованным представителем JEOL Ltd. в России и СНГ.

Вышел N1 журнала "Медицинская техника", 2002г.

26 марта 2002 года в 14 часов в помещении конференц-зала Института кристаллографии РАН состоялся Московский семинар по электронной микроскопии. Ведущий специалист фирмы JEOL (Япония) Тецуо Ойкава выступил с докладом на тему:

"Последние разработки JEOL в области просвечивающих электронных микроскопов и применение этих приборов в исследованиях металлов, наноматериалов и кристаллографии".

Представлены последние разработки JEOL в области просвечивающей электронной микроскопии высокого разрешения, рассмотрены современные методы исследования структуры новейших материалов, представлены результаты исследований, полученные на микроскопах с ускоряющим напряжением 200-400 кВ, в том числе на приборах с автоэмиссионными катодами.

Семинар организован совместно Институтом кристаллографии и фирмой Interactive Corporation, авторизованным представителем JEOL Ltd. в России и СНГ.

Сообщаем также, что представители JEOL (генеральный менеджер компании по Азии и СНГ г-н Яшида и специалист по просвечивающей электронной микроскопии г-н Ойкава) будут Москве, в офисе нашей компании, до конца марта. Мы можем организовать встречу для обсуждения технических и/или финансовых условий по поставке оборудования JEOL.

Добавлен каталог продукции.

Обновлен прайс-лист оборудования ЗАО "ВНИИМП-ВИТА"

"Современные методы исследования вещества" - тема научно-практического семинара, организованного 19 марта 2002г. японскими компанией "JEOL, Ltd." и Московским представительством "Tokyo-Boeki, Ltd." в Институте Катализа СО РАН, г.Новосибирск. Основная задача семинара - встреча тех, кто производит приборы и "доводит" их до пользователя, с учеными, работающими на оборудовании японской фирмы.

Г-н Шунсуке Йошида, представитель фирмы "JEOL, Ltd." заметил, что на семинар в Новосибирске их специалисты возлагают большие надежды. По сути состоялся интереснейший разговор с теми, кто на протяжении ряда лет работает на оборудовании этой известной фирмы и не по наслышке знает как работают микроскопы, носящие марку "JEOL". Он подчеркнул, что "JEOL, Ltd." всегда готова при необходимости обновить старое оборудование, заменить изношенные детали. И еще, сказал г-н Йошида, фирма очень надеется на то, что контакты с Россией, которые с началом перестройки заметно ослабли, снова активизируются.

Помимо научных докладов, на семинаре прозвучали презентационные сообщения представителей фирм "JEOL, Ltd." и "Tokyo-Boeki, Ltd.". В частности, сотрудник фирмы "JEOL, Ltd." Т. Оикава сделал доклад "Новейшие достижения в применении просвечивающих электронных микроскопов". Участники семинара также познакомились с работой ПЭМ JEM-2010.

На нашем сайте добавлена 2 часть описания шлифовально-полировальных станков фирмы Metkon.

18марта 2002 года в 15 часов в помещении конференц-зала Института общей физики РАН состоялся Московский семинар по растровой электронной микроскопии с демонстрацией микроскопа JEOL JXA-5910LV. Заместитель генерального менеджера фирмы JEOL (Япония) г-н Акира КАБАЯ выступил с докладом о современных разработках в области растровой микроскопии.

Открылся наш сайт! Добро пожаловать!