Дата |
Новости |
| 02.04.02 |
С апреля 2002г. два наиболее популярных сканирующих микроскопа JEOL – 5610 и 5910 заменены новейшими моделями с улучшенными характеристиками: JSM-6360 и JSM-6460.
Одновременно фирма JEOL объявила о выпуске новейшей модели сканирующего микроскопа высокого разрешения – JSM-7400F. |
| 01.04.02 |
Весенние скидки от 10 до 30 процентов! |
| 01.04.02 |
НОВОЕ ПРИОБРЕТЕНИЕ TEKTRONIX
В середине марта нынешнего года появилось сообщение о приобретении компанией Tektronix (США) немецкой фирмы Profile Optische Systeme GmbH, которая является одним из лидеров в области разработки контрольно-измерительного оборудования для оптических телекоммуникационных линий... |
| 01.04.02 |
EG&G ORTEC выпустил модификацию цифрового спектрометра DSPec plus с большей частотой оцифровки входного импульса. Кое-что о нем и цифровой спектрометрии вообще на нашем сайте. |
| 01.04.02 |
С апреля 2002г. два наиболее популярных сканирующих микроскопа JEOL – 5610 и 5910 заменены новейшими моделями с улучшенными характеристиками: JSM-6360 и JSM-6460.
Одновременно фирма JEOL объявила о выпуске новейшей модели сканирующего микроскопа высокого разрешения – JSM-7400F.
Поставка новых моделей начинается со второго полугодия 2002г. Первый в России прибор – JSM-6460LV – будет установлен в лаборатории Саяногорского алюминиевого комбината (компания Русский Алюминий) осенью 2002г. |
| 01.04.02 |
По итогам сибирского промышленно-инновационного форума "Промтехэкспо"(выставка "Омскгазнефтехим") наша компания была награждена дипломом "За применение новых конструктивных решений в разработке металлической лабораторной мебели серии АНАЛИТИКА". |
| 01.04.02 |
В связи с открытием ряда новых сайтов по различным направлениям деятельности и полным изменением структуры www.semico.ru, устаревшая информация из раздела новостей удалена. |
| 01.04.02 |
Предприятие осуществляет фасовку кислот, перекиси водорода, аммиака в стеклянную тару объемом 0.5л. |
| 01.04.02 |
Ищем представителей в регионах России (в том числе в Москве). Желательно химическое образование, опыт снабженческо-сбытовой работы. |
| 30.03.02 |
26 марта 2002 года в Институте кристаллографии РАН состоялся Московский семинар по электронной микроскопии. Ведущий специалист фирмы JEOL (Япония) Тецуо Ойкава выступил с докладом на тему:
"Последние разработки JEOL в области просвечивающей электронной микроскопии и ее применение в исследованиях металлов, наноматериалов и кристаллографии".
Представлены последние разработки JEOL в области просвечивающей электронной микроскопии высокого разрешения, рассмотрены современные методы исследования структуры новейших материалов, представлены результаты исследований, полученные на микроскопах с ускоряющим напряжением 200-400 кВ, в том числе на приборах с автоэмиссионными катодами.
Семинар организован совместно Институтом кристаллографии и фирмой Interactive Corporation, авторизованным представителем JEOL Ltd. в России и СНГ. |
| Москва | Региональные новости >>>
| Новосибирская область | Региональные новости >>>
| Омская область | Региональные новости >>>
| Башкортостан | Региональные новости >>>
